LEIPS（低エネルギー逆光電子分光法）

 固体表面の非占有準位（伝導帯）の電子状態の観測が可能です。

XPS/UPSに拠る占有準位の電子状態の情報と複合装置化することで、半導体や有機膜のエネルギーバンド構造を知る強力なツールとなります。